德國E+H雷達物位計的局限性和測量條件 局限性影響雷達性能的是介電常數，理論上在真空中雷達衰減極小，當空氣中存在對雷達衰減物質，例如：高介電性的粉塵粉末(石墨，鐵合金等)，水蒸氣很大，測量距離效果要受影響。 被測介質的揮發(fā)氣體會在天線上聚集，水蒸汽會在天線上聚結，此時會影響雷達波的發(fā)射，嚴重時雷達波不能發(fā)出。 被測介質的介電常數不能太小。 盡管溫度和壓力對雷達影響極小，但雷達天線是由材料做成的，雷達可適應溫度的壓力的范圍與使用的材料和密封結構有關。
測量條件注意事項 測量范圍從波束觸及罐低的那一點開始計算，但在特殊情況下，若罐低為凹型或錐形，當物位低于此點時無法進行測量。 若介質為低介電常數當其處于低液位時，罐低可見，此時為保證測量精度，建議將零點定在低高度為C 的位置。 理論上測量達到天線*的位置是可能的，但是考慮到腐蝕及粘附的影響，測量范圍的終值應距離天線的*至少100mm。 對于過溢保護，可定義一段安全距離附加在盲區(qū)上。 小測量范圍與天線有關。 隨濃度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以將其反射，但在一定的條件下是可以進行測量的
部分型號 E+H CYK10-G151
E+H CPM253-MR4505
E+H CPA250-A00
E+H CPF81-LH31D4
E+H CPK9-NAZ1A
E+H CPA450-1K110
E+H CPM153-G1AO8AOOO
E+H CPM153-A1B10A010
E+H CPS11-2BA5ESA
E+H CLD134-PMV530AA1
E+H COM253-DS8105
E+H COS41-4F
E+H CPS11D-7BA21
E+H CPM253-MR0005
E+H CLM253-CD0005
E+H CPA450-1F210
E+H CPS11-2BA2ESA
E+H CLS15-B1M2A
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