E+H雷達物位計的特點 雷達物位計采用微波脈沖的測量方法，并可在工業頻率波段范圍內正常，波束能量低，可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內，對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續測量。適用于粉塵、溫度、壓力變化大，有惰性氣體及蒸汽存在的場合。雷達物位計對人體及環境均無傷害，還具有不受介質比重的影響，不受介電常數變化的影響，不需要現場校調等優點，不論是對工業需要，還是對顧客經濟實惠的考慮，都是不錯的選擇。
雷達物位計已成為物位測量儀表市場上的主流產品，主要分為雷達物位計和導波雷達物位計。
雷達物位計發射功率很低的極短的微波通過天線系統發射并接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內穩定和的測量。即使存在虛假反射的時候，的微處理技術和軟件也可以準確地分析出物位回波。通過輸入容器尺寸，可以將上空距離值轉換成與物位成正比的信號。儀表可以空倉調試。在固體測量中的應用可以使用K-頻段的高頻傳感器。由于信號的聚焦效果非常好，料倉內的安裝物或倉壁的粘附物都不會影響測量。
導波雷達物位計的微波脈沖沿著一根纜、棒或包含一根棒的同軸套管運行，接觸到被測介質后，微波脈沖被反射回來，并被電子部件接收，并分析計算其運行時間。微處理器識別物位回波，分析計算后將它轉換成物位信號給出。由于測量原理簡單，可以不帶料調整，從而節省了大量調試費用。測量纜或棒可以截短，使之更加適應現場的應用。對于蒸汽不敏感，即使在煙霧、噪音、蒸汽很強烈的情況下，測量精度也不受到影響。不受介質特性變化的影響，被測介質的密度變化或介電常數的變化不會影響測量精度。粘附:沒有問題，在測量探頭或容器壁上粘附介質不會影響測量結果。容器內安裝物如果采用同軸套管式的測量*不受容器內安裝物的影響，不需要特殊調試。
FTM51-AGG2M4A32AA L=400MM
FTM51-AGG2L4A52AA L=400MM
FTM51-AGG2L4A52AA L=650MM
FTL20-002D
FTC260-BB2D1
FMI52-A1AGEJB3A1A (L=4.8M)
DB53-AK71BC12BG20測5.5m 纜6.5m
DB53-AK71BC12GG20測3.5M 纜長5.0M
FTL51-AGR2BB4F6A L=150MM
FTL51-AGE2DB7G4A
FTL20-0020
FTL260-0020
DB50-AC10BC11EG30
FMX167-A2AFE1F3
FTC260-BB2D1
FMP40-ABB2CWJB21AA L=15M
FTL51-AGQ2BB2G4A L=148MM
FMI51-A1AB2KB3A1A L=1500MM
FTM51-G2L4AH7AA L=400mm
FTM20-4G42A
FTM50-AGG2A4A14AA
FMP40-AAA2CFJB21AA L=8M
FTM260-G4B
FTM50-AGG2A4A32AA
FTC260-AA4B1
FMP40-LBB2CQJB21HA L=12M
FTL50H-ATE2AD4G6A |
